维普论文检测系统检测前原文：
每个三角单元上的电导率是一个常数，则式(4-13)在任何一个三角单元上都是线性方程，如果用矩阵表示如下： (4-14) 式中， 是边界电压变化向量，cp是离散的电导率向量，S是灵敏度矩阵，其矩阵元素如下： (4-15) 这里，i表示第i次电流注入下的测量电压，j表示第j个单元。由式(4.13)就可以计算出电导率cp的分布，即 (4-16) 式(4-16)说明，如果测量出边界电压Vp，就能够重建出扰动电导率cp的图像。式(4-11)对于二维EIT、三维EIT及任意激励模式、测量模式均成立，但是测量模式、电极位置的放置及不同的激励模式会影响矩阵S求逆的图像重建性能和稳定性。 4.3 EIT逆问题的病态特性
维普论文检测系统检测后相似论文片段：
每个单元上的电导率是常数，则式（４．６８）在每个单元上都是一线性方程，用矩阵表示如下：匕＝Ｓｃｐ （４．６９）式中，％是边界电压变化向量，ｃ，是离散的电导率向量，ｓ是灵敏度矩阵，其矩阵元素如下：岛＝Ｉ Ｖ①。?Ｖ①。ｄｖ （４．７０）』庙元这里，ｆ表示第ｆ次电流注入下的测量电压，歹表示第ｊｆ个单元。由式（４．６９）就可以计算出电导率Ｃ。的分布，即ｃｐ ２∥％ （４．７１）通过测量边界电压■，就可以计算出扰动电导率ｃｐ的图像。式（４．７１）对于二维ＥＩＴ、三维ＥＩＴ及任意激励模式、测量模式均成立，但是不同的激励模式、测量模式及电极位置的放置会影响矩阵Ｓ求逆的稳定性和图像重建性能。４．２．２ ＥＩＴ逆问题的病态特性在工程实际中，由于模型误差和测量误差的存在，逆问题
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