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维普论文检测系统7月15日检测样例:内耗技术在金属晶体原子缺陷方面的应用研究

2014年07月15日 论文检测样例 ⁄ 共 797字 ⁄ 字号 暂无评论 ⁄ 阅读 641 views 次

维普论文检测系统检测前原文:

振幅。由于振动一周所消耗的总能量与其最大振幅A0的平方成正比,并且ΔW正比于2A0ΔA0,所以"∆W" /"W" "=" ("2∆" "A" _"0" )/"A" _"0" 。当δ很小时,则有 "δ=" "ln" ⁡〖"A" _"n" 〗 "-" "ln" ⁡〖"A" _"n+1" 〗 "=" ("A" _"n" "-" "A" _"n+1" )/"A" _"n" "=" "1" /"2" "∆W" /"W" "=" ("∆" "A" _"0" )/"A" _"0" "≈" "ln" ⁡〖"A" _"0" /"A" _"1" 〗 (1-12) 与式(1-7)相比较,可得: "Q" ^"-1" "=" "1" /"π" "ln" ⁡〖"A" _"0" /"A" _"1" 〗 (1-13) 由叠加原理可进一步得到: "Q" ^"-1" "=" "1" /"nπ" "ln" ⁡〖"A" _"0" /"A" _"n" 〗 (1-14) 式中A0为初始振幅,An为振动n次之后的振幅[36]。对于强迫振动法,内耗(Q-1)的大小为 Q^(-1)=tan⁡φ (1-15) 式中:φ是应变落后于应力的相角。实验发现,金属中原子缺陷的存在使得内耗测量过程中在内耗—温度曲线上产生内耗峰,比较典型的有Snoek峰和Zener峰,还有各种复合缺陷引起的内耗峰。随着研究的深入,这些内耗峰能被用作检验某些金属材料中杂质原子含量和存在状态的手段。 1.4 Snoek内耗

维普论文检测系统检测后相似论文片段:

衰减方法.对于自由衰减法,内耗(Q。1)的大小为矿=去(兰in) (1)m丁c 以月+”式中:彳。是第豫次振幅大小;4。+。是第n+m次振幅大小.对于强迫振动法,内耗(Q。1)的大小为Q。1=tan妒 (2)式中:p是应变落后于应力的相角.实验发现,金属中原子缺陷的存在使得内耗测量过程中在内耗一温度曲线上产生内耗峰,比较典型的有Snoek峰和Zener峰,还有各种复合缺陷引起的内耗峰.随着研究的深入,这些内耗峰能被用作检验某些

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